射頻探針指南

一、射頻探針

RF晶片探針將沿同軸電纜傳播的電磁能轉換為晶片上DUT及其接觸墊。轉換必須以最小的失真和能量損失進行。各種類型的RF DUT之間存在顯著差異：從分立元件到在非常寬的頻率范圍內工作的復雜IC。因此，RF探針技術必須支持各種頻率和間距以及各種配置。最后，探頭價格和探針頭壽命直接影響測試的DUT成本。當然，后者必須保持盡可能低的水平。通過對當今RF應用所面臨的眾多挑戰的深刻理解，GP-RF探針，這是專為這些復雜應用而優化的產品系列，主要針對高級RF客戶的要求。GP探針利用高水準的MEMS技術，在射頻測試領域提供新的技術和制造進步。

二、校準基板

商用探針RF校準標準采用共面設計，包括不同類型的校準元件：開路，短路，負載和線路。因此，可以執行各種類型的探針準。

GP AC系列校準基板專門開發用于提供探針的精確探針校準。校準標準的設計與探頭配置和間距尺寸相匹配。標準等效阻抗的模型參數定義了校準的準確度，并以高精度提取。

三、射頻校準軟件

在晶圓級射頻校準和微波測量細節進行詳細的了解芯測的長期經驗，隨時為GP的射頻校準軟件。我們旨在使RF系統校準簡單的復雜和繁瑣的任務。其多點觸控和多語言圖形用戶界面以及原始的NIST多線TRL校準功能改變了晶圓級RF系統校準。

四、射頻電纜和配件

RF測量的成功取決于整個系統的最佳配置。為了達到同類最佳的系統性能，芯測提供了出色的柔性電纜，波導部分以及各種適配器，可用于完整的RF探頭系統集成。經過校準的扭矩扳手，探針平面化和清潔配件有助于長時間保持系統測量性能達到高水平。

五、產品特點：

1.MEMS技巧

探針精確制造，采用匹配的50ΩMEMS觸頭。憑借出色的探頭電氣特性（最小的插入損耗和串擾以及高回波損耗），它們可在最寬的頻率范圍內確保的校準和測量結果。

2.接觸結構

與市場上的任何其他技巧不同，我們射頻探頭可提供觸點的出色和實時可見性。即使對于沒有經驗的操作員并且不使用探針對準標記，RF探針在校準標準或DUT墊上的高度精確定位也成為可能。

3.減少接觸探針

公司新型探頭型號的觸頭寬度減少了33％，降至20μm。行業趨勢使得我們進一步降低RF器件和IC的焊盤尺寸，顯著降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的測試成本。它可以為Si器件獲得精確，可重復的測量結果，鋁焊盤金屬化尺寸小至30 x35μm。我們的探針采用GSG配置，探頭間距為50μm至150μm。

4.出色的使命壽命

探針技術強大的功能之一是其均勻的磨損：在數十萬個探針循環后，探針的長度自然縮小。然而，由于*的探頭設計，電氣特性保持不變。因此，探針的使用壽命優于同類探針技術的使用壽命，并以真正實惠的價格脫穎而出。