<ul id="oie2q"></ul> <ul id="oie2q"></ul> Products
SD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HCTLP 測試機l 用于獲取器件保護電路的相關參數特性l 為器件升級提供支持，縮短產品周期l 提供普通和VF（非常快）型號。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。l 具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產率。l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測試儀結合使用現在提供大電流輸出
SD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC
TLP 測試機
l 用于獲取器件保護電路的相關參數特性
l 為器件升級提供支持，縮短產品周期
l 提供普通和VF（非常快）型號。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。
l 具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產率。
l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測試儀結合使用現在提供大電流輸出型號（T5000-HC）。
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備
此設備是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設備
對集成電路里保護電路的工作參數的收集與分析有很大幫助
也可進行VF-TLP測試
| 產品名/型號 | 設備說明 | 設備介紹視頻 |
|---|---|---|
 HED-T5000/ | 此設備配備了先進的測試模式 | |
 HED-T5000-HC | 目前，對于半導體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加 |
