射頻探針是我們在測試時(shí)不可少的工具，主要用于電子測試設(shè)備，對硅片、管芯及開放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號進(jìn)行測量，還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。射頻應(yīng)用中使用的傳輸線一般為與電路板連接的同軸線纜，以及設(shè)置于電路板內(nèi)部的微帶線。
在對待測電路進(jìn)行測試時(shí)，需要經(jīng)傳輸線向該待測電路發(fā)送信號。它至少需要兩種導(dǎo)體，一種為信號導(dǎo)體，另一種為接地導(dǎo)體。這些導(dǎo)體的結(jié)構(gòu)決定了待測電路測試所需的探針類型。探針結(jié)構(gòu)分為GS（接地-信號）、GSG（接地-信號-接地）以及GSSG（接地-信號-信號-接地）三種。常見的結(jié)構(gòu)類型為GSG，該結(jié)構(gòu)與共面波導(dǎo)類似。
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由于待測設(shè)備（DUT）的性質(zhì)和構(gòu)成非常敏感且通常較為精細(xì)，因此射頻電路的測量往往是一項(xiàng)棘手任務(wù)。高可靠性射頻測量中困擾最多的兩大問題是：頻率太高時(shí)，當(dāng)前測試設(shè)備無法進(jìn)行射頻能量的測量；當(dāng)待測電路對電氣環(huán)境中的微小變化敏感時(shí)，測量中要求頻率或幅度不發(fā)生擾動(dòng)。這些問題可通過采用對待測電路的能量擾動(dòng)盡可能小的測量探針解決，其中，高阻抗探針中的放大器能夠平衡待測電路的受擾能量。在射頻電路系統(tǒng)測試中，探針與測試設(shè)備的阻抗匹配對于能否實(shí)現(xiàn)有效的功率傳輸而言至關(guān)重要。
然而，隨著測試頻率越來越高，以及對測試誤差的要求越來越嚴(yán)格，上述阻抗匹配變得越來越困難。在射頻測試領(lǐng)域中，射頻測試探針分為多種不同類型，如何選擇合適的探針取決于對待接觸測試點(diǎn)、頻率或數(shù)據(jù)速率、探針可用空間以及環(huán)境條件的考量。在不久的將來，射頻探針需要具有測試更小焊盤及多個(gè)信道的設(shè)計(jì)能力，以及同時(shí)覆蓋多種毫米波、射頻、邏輯和功率信道測量范圍的能力。
根據(jù)待測電路用途的不同，建議使用工作頻率與該用途匹配的探針。一些型號的探針設(shè)計(jì)可支持高達(dá)110GHz的頻率。大多數(shù)射頻探針的阻抗為50歐姆，但是同時(shí)也存在針對高頻測試需求的高阻抗探針、差分探針及雙信號探針（SGS）。
